简介
聚焦离子束 - 扫描电镜（FIB-SEM）是集高精度成像、微纳加工、切片断层扫描于一体的先进表征技术，可实现材料表面 / 截面形貌观察、定点切割、透射电镜样品制备及三维重构分析。
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做电池 / 材料最常用 3 大功能
1. 精准制样（最核心）
切微米级平整截面：电极 / 隔膜 / 固态电解质界面
切特定位置：枝晶、裂纹、孔洞、失效区域
制样供 TEM、APT 用
2. 截面形貌观察
电极截面结构
界面是否分层、脱粘
枝晶是否刺穿隔膜
厚度、孔隙、裂纹
3. 三维重构（3D FIB-SEM）
连续切片 → 重建内部三维结构
看：孔隙网络、颗粒分布、离子传输通道
1. 精准制样（最核心）
切微米级平整截面：电极 / 隔膜 / 固态电解质界面
切特定位置：枝晶、裂纹、孔洞、失效区域
制样供 TEM、APT 用
2. 截面形貌观察
电极截面结构
界面是否分层、脱粘
枝晶是否刺穿隔膜
厚度、孔隙、裂纹
3. 三维重构（3D FIB-SEM）
连续切片 → 重建内部三维结构
看：孔隙网络、颗粒分布、离子传输通道
下单须知
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