简介
原子力显微镜（AFM）是一种纳米级高分辨表面形貌与力学性能表征技术，通过探针与样品表面原子间的相互作用力，实现对材料表面微结构、粗糙度、颗粒形貌、膜层均匀性及局部力学性质的精准检测。
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一、最常用 4 种模式
1. 接触模式（Contact Mode）
测：硬材料、形貌、粗糙度
适用：金属、氧化物、陶瓷
2. 轻敲模式（Tapping Mode，最常用）
测：软材料、薄膜、电极、生物样
优点：不破坏样品，成像清晰
3. 导电 AFM（C-AFM）
测：表面电流分布、导电性
适用：锂枝晶、电极界面、固态电解质
4. 开尔文探针力显微镜（KPFM）
测：表面电势分布、功函数
适用：异质结、界面电场、枝晶尖端电势
二、测试前必做 3 件事
1.样品必须平整、牢固、无浮粉
2.软样品用轻敲模式，别用接触模式
3.测导电 / 电势要提前接地、除静电
1. 接触模式（Contact Mode）
测：硬材料、形貌、粗糙度
适用：金属、氧化物、陶瓷
2. 轻敲模式（Tapping Mode，最常用）
测：软材料、薄膜、电极、生物样
优点：不破坏样品，成像清晰
3. 导电 AFM（C-AFM）
测：表面电流分布、导电性
适用：锂枝晶、电极界面、固态电解质
4. 开尔文探针力显微镜（KPFM）
测：表面电势分布、功函数
适用：异质结、界面电场、枝晶尖端电势
二、测试前必做 3 件事
1.样品必须平整、牢固、无浮粉
2.软样品用轻敲模式，别用接触模式
3.测导电 / 电势要提前接地、除静电
下单须知
- 下单后请在预约页面填写样品/需求信息，工作人员会在工作时间内与您确认。
- 价格为起步价，具体以实际需求评估为准；如需加急，请与客服沟通。
- 交付周期为参考范围，受样品状态与排期影响可能略有浮动。
